Problem 1610 --芯片测试

1610: 芯片测试

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   基础练习  芯片测试   

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问题描述

  有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。

  每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。

  给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。

输入格式

  输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。

  第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i,  j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本  身进行测试)。

输出格式

  按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

3

1  0  1

0  1  0

1  0  1

样例输出

1  3





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算法最快[$0 $ms] 淡意的温柔 582214 2020-05-08 14:44:21
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第一AC AOJ大管家 98263 2017-05-31 15:39:39
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赛题来源/所属竞赛 蓝桥杯 挑战算法之蓝桥杯

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